泰克跨越RFID測試挑戰“三重門”

　　曾志總結了RFID測試面臨的主要挑戰：

　　1.讀寫器測試

　　- 需要能夠準確、快速地捕獲RFID的間歇性突發信號;

　　- 需要兼容多種調制和解碼方式及標準;

　　- 需要時域頻域和調制域的聯合分析，時間相關測量 (如標簽讀取的時序);

　　- 需要強大的頻域觸發功能，捕獲頻域上的特定信號(如干擾);

　　- 跳頻信號捕獲(觸發)和解調分析 。

　　2.標簽測試

　　- 需要對微弱信號的測量和分析能力;

　　- 需要兼容多種調制和解碼方式，自動解調和解碼

　　3.系統測試

　　- 密集環境下的交互和抗干擾測試;

　　- 一致性(互通性)測試;

　　- 系統讀寫周期分析;

　　- 解碼和信令測試;

　　- 需要長存儲，存儲多個完整的讀寫周期，便于對讀寫狀態分析。

　　“能實時、準確捕獲RFID間歇性信號，支持多標準、多域分析功能等，這是相應信號分析設備應對上述三個方面測試挑戰所要具備的特性。”曾志指出，“泰克基于DPX專利技術的實時信號分析儀(RTSA)系列以及最新推出的集成頻譜分析儀的混合域示波器MDO4000系列為RFID研發、現場和認證測試提供了強大的解決方案平臺。”

　　圖3： 實時頻譜分析儀和傳統頻譜分析儀的區別。

　　跨越研發、現場、認證測試“三重門”

　　RFID的測試分為研發測試(讀寫器實驗室研發、系統開發和驗證)、現場測試(系統調試、電磁環境評估、干擾查找和定位、數據采集)和認證測試(RFID標準一致性測試、系統互通性測試 )三個階段。

　　泰克公司提供的RFID測試解決方案——RTSA和混合域分析儀及示波器MDO在研發測試階段所能發揮的作用分為以下三個方面：

　　1.讀寫器設備的Troubleshooting：如進行讀寫器信號實時頻譜分析(頻率、功率、調制帶寬等)，調制質量分析，瞬態噪聲分析，跳頻捕獲和調制質量分析，時序測量，命令測試等;

　　2.標簽測試：靈敏的觸發設置，捕獲低調制深度標簽信號，時序測量，頻譜測試，負載調制能量和質量;

　　3.分析和評估讀寫器與標簽互通特性：實時頻譜分析(同頻頻譜分析)，時序測量，碰撞分析，標簽調制回波質量分析。

　　泰克RTSA可以在一臺儀表中同時獲得寬帶矢量信號分析儀、頻譜分析儀功能，并具備獨有的觸發-捕獲-分析能力，可以輕松應對所有RFID應用中瞬變信號的捕獲。頻率達到8GHz，適合RFID所有頻段要求;高達85MHz分析帶寬，可滿足所有RFID標準測試。其專利的DPX實時頻譜技術，實現292,000頻譜/秒更新速度。而超長記錄時間，能夠記錄完整的RFID交互過程。

　　圖4：泰克RTSA集成的DPX實時頻譜顯示技術非常適合RFID的讀寫器頻譜分析。

　　RTSA具有靈活的頻率模板觸發器(FMT)，為可靠地檢測和分析動態RF信號提供了一個強大的工具。它還可以用來進行傳統頻譜分析儀不可能完成的測量，如在存在強大的RF信號時捕獲小電平瞬時事件，在擁擠的頻譜范圍內檢測特定頻率上的間歇性信號。分析儀在檢測到觸發事件時，能夠把觸發前和觸發后的數據保存到內存中。一旦信號已經采集并存儲在內存中，可以使用RTSA 中提供的各種時間相關視圖分析信號，這種時間相關的多域分析功能提供了巨大的靈活性，可以使用各種分析工具，放大和全面檢定采集的RF信號的不同部分。