NI模塊擴(kuò)展PXI平臺的功能

　　美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)擴(kuò)展其PXI平臺的功能，通過新發(fā)布的每個(gè)引腳參數(shù)測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊(SMU)用于半導(dǎo)體的特性描述和生產(chǎn)測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設(shè)備成本，縮短測試時(shí)間，并提升各種測試設(shè)備的混合信號靈活性。

　　使用NI PXIe-6556高速數(shù)字I / O模塊，工程師可以產(chǎn)生和獲得一個(gè)高達(dá)200 MHz的數(shù)字波形或在同一針腳上，以 1% 誤差率執(zhí)行 DC 參數(shù)測量，從而簡化布線，減少測試時(shí)間和提高直流參數(shù)測試儀的測量密度。此外，其內(nèi)置的時(shí)序校準(zhǔn)功能可自動調(diào)整時(shí)序，幫助工程師們消除不同連線與線路長度所造成的時(shí)序偏移，。NI PXIe-6556可選擇是否以其他精度更高的NI SMU切換，工程師可基于硬件或軟件觸發(fā)器，進(jìn)而觸發(fā)參數(shù)測量。

　　NI PXIe-4140/41 SMU模塊可用于PXI Express插槽，提供多達(dá)4個(gè)SMU的通道，而4U的單一PXI機(jī)箱可提供多達(dá)68個(gè)SMU的通道,以輕松應(yīng)對高針數(shù)設(shè)備的測試。高達(dá)每秒600,000樣本的采樣率，工程師們可以大大減少測量時(shí)間，或獲取設(shè)備重要的瞬態(tài)特性。此外，NI PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術(shù)，工程師們可根據(jù)任何給定的負(fù)載自定義調(diào)整SMU輸出，以實(shí)現(xiàn)最大的穩(wěn)定性和最小的瞬態(tài)倍。傳統(tǒng)SMU技術(shù)無法提供此功能。

　　結(jié)合使用NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件，這些新PPMU和SMU模塊為半導(dǎo)體測試提供了模塊化的軟件定義測量方式，從而提高質(zhì)量，降低成本并減少整個(gè)測試驗(yàn)證，特性研究和生產(chǎn)的時(shí)間。 LabVIEW具有靈活性編程語言與先進(jìn)的工程工具的力量，使工程師能夠滿足特定、定制化的要求。