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        使用LabVIEW和NI PXI 測試ASIC

        作者: 時間:2011-07-28 來源:電子產品世界 收藏

          我們的(如圖3中的圖形用戶界面所示),是通過 PXI機箱以及插在其中的模塊化設備構建的,模塊化設備包括:用于快速計算的具有雙核處理器的 PXIe-8106控制器,以及用于連接控制和數據信號傳輸的 PXI-6562高速DIO模塊。我們還使用NI PXI-4071數字萬用表模塊以精確測量10分之幾nA范圍內的芯片偏置電流,使用NI PXI-4110電源模塊以快速精確地控制需要的電位,使用NI PXI-6259多功能DAQ模塊來進行各種其它測量,并控制模擬輸出電壓。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/121893.htm

        圖3. DEDIX數據采集的前面板

          我們選擇美國國家儀器公司的設備,是因為它們具有覆蓋廣泛、并易于使用的驅動,通過 API,可以在高級的應用程序中很容易地使用它們。在測試過程中,我們需要為8個數字輸入線設置延遲(相對于輸出時鐘信號),使用 和 PXI-6562,只花費5分鐘便實現了該功能。

          在與ASIC建立通信后,我們對數字比特流進行分析,這對于觀察和調試專用的數字波形數據非常有用。我們從函數選板中選擇了一些函數來適當地剪切、移動以及轉換比特流數據,并將其轉化為能夠代表X射線強度的表示方式。通過這些數據,我們可以計算ASIC參數,如增益、噪聲,以及通道或像素間的直流電平分布。我們還使用了許多數學函數,如差分、擬合(高斯函數和專用誤差修正函數),以及對數組和其它基本數據類型的各種操作。LabVIEW提供了所有這些函數,所以我們可以快速地實現這些應用。

          由于收集了大量的數據需要處理,所以設備的性能至關重要。例如, PX90芯片包含了一個32x40的陣列(共1,280像素),用于對射入的X-射線進行計數,該芯片需要對一個模擬參數(閾值掃描)進行測量,從而對所有的像素數據進行擬合。而如果想計算出芯片的校準參數,則需要將這一測試過程重復256次。這意味著我們需要重復30萬次以上的數據擬合過程,而這一過程所耗的時間又是非常關鍵。使用LabVIEW2010,程序員可以配置for循環以利用多核處理器的性能。借助這一特性,我們在一個8核處理器上將計算速度提高了七倍以上。

          結論

          我們構建了一個能夠可靠快速地測試產品的。它采用了諸多種類的模塊化儀器,因此我們無需使用其它設備就可以完成必要的測試。我們的虛擬儀器構建在LabVIEW所編寫的專用軟件的基礎上,因此用戶可以設置適當的測試配置、ASIC參數,并讀取數據,然后在圖形化用戶界面上顯示分析后的結果。正是由于基于NI產品構建的這個系統方案,使得我們可以節省一年的測試時間。例如,日本Rigaku公司在高速、位置靈敏的探測器系統中采用了我們的一個產品[2]。隨著我們新的虛擬儀器的出現,用在測試設備中ASIC所花費的時間縮減至不到三個月。

          參考文獻

          [1] P. Grybo?, P. Maj, L. Ramello, K. ?wientek,: Measurements of Matching and High Rate Performance of Multichannel ASIC for Digital X-Ray Imaging Systems, IEEE Transaction on Nuclear Science, vol. 54, August 2007, pp. 1207-1215

          [2] R. SZCZYGIE?, P. GRYBO?, P. MAJ, A. Tsukiyama, K. Matsushita, T. Taguchi: RG64 – high count rate low noise multichannel ASIC with energy window selection and continuous readout mode, IEEE Transactions on Nuclear Science ; ISSN 0018-9499. — 2009 vol. 56 no. 2 s. 487–495

          [3] M. Kachel, P. Grybos, R. Szczygiel „Low Noise 64-Channel ASIC for Si, GaAs and CdTe Strip Detectors” NSS-MIC 2009 Conference.

          [4] R. Szczygiel, P. Grybos, P. Maj, "A Prototype Pixel Readout IC for High Count Rate X-ray Imaging Systems in 90 nm CMOS Technology", IEEE Trans. Nucl. Sci., vol. 57, no. 3, 2010, p. 1664-1674.


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        關鍵詞: NI LabVIEW 虛擬儀器

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