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        使用LabVIEW和NI PXI 測試ASIC

        作者: 時間:2011-07-28 來源:電子產品世界 收藏

          "我們的構建在所編寫的專用軟件的基礎上,因此用戶可以設置適當的測試配置、ASIC參數,并讀取數據,然后在圖形化用戶界面上顯示分析后的結果。正是由于基于產品構建的這個系統方案,使得我們可以節省一年的測試時間。"

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/121893.htm

          – Piotr Maj, AGH University of Science and Technology

          The Challenge:

          設計和測試針對物理學和生物學應用中的專用集成電路(application-specific integrated circuits, ASIC)。

          The Solution:

          使用 軟件和PXI硬件創建,以盡可能快地測試ASIC

          Author(s):

          Piotr Maj - AGH University of Science and Technology

          介紹

          我們的物理解決方案能夠檢測低能量、高密度的X射線輻射(見圖1)。我們設計了專用的X射線探測器的讀數ASIC,如DEDIX[1]、RG64[2]和SXDR64[3],這些都是用于讀取硅條探測器,以及諸如PX90[4]的芯片(該芯片采用90納米CMOS技術構造,并用于讀取像素探測器(見圖2))。我們的芯片包含多達幾千個讀數通道,以單光子計數模式工作,這意味著如果某個撞擊探測器的光子的能量超過一定的閾值,讀數通道就可以對其計數。所有的芯片都包含模擬和數字部分,并具有數字通信接口,用于控制ASIC并輸出所采集的數據。每個接口可能有不同數量的針腳,可以與不同的數字I / O一起工作,速度高達200MHz。我們需要盡可能快地測試ASIC,得到結果并作進一步的處理。

        圖1. 使用DEDIX ASIC進行X射線檢測

        圖2. 將PX90芯片連接到PCB

             創建

          我們對ASIC進行測試,以確保制作的芯片參數滿足要求。為此,我們需要與芯片進行通信,以比特流的形式采集數據,并將其轉換為有意義的表示方式。然后,我們需要測量物理參數(在此案例中,即測量給定時間內的光子數),并根據所獲取的數據計算ASIC模擬參數。我們需要以最佳的方式表示結果,從而盡可能地得到正確的結論。市場上沒有能夠滿足這種要求的現成設備,因此,我們決定使用 產品自己開發。


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        關鍵詞: NI LabVIEW 虛擬儀器

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