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        2011第四屆國際測試儀器及應用大會將在上海舉行

        作者: 時間:2010-11-08 來源:電子產品世界 收藏

          主辦:《電子產品世界》雜志社 慕尼黑(上海)有限公司

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/114290.htm

          時間:2011年3月15日

          地點:上海新國際博覽中心

          技術始終保持著廣泛而活躍的市場需求,特別是在被動元件測試和高性能電子測試上的發(fā)展?jié)摿薮蟆U大內需的政府舉措更是給產業(yè)發(fā)展的巨大空間,其中很大一部分投入集中在與國防、航空航天和高性能測試領域,促使中國高端市場逆勢上揚,保持旺盛的活力。有鑒于此,《電子產品世界》將舉辦“第四屆國際及應用技術大會”,會上將探討如何選擇最新的測試測量儀器產品和測試測量解決方案,為廣大參會者帶來對測試測量領域的全新了解,并且對他們的實際工作有指導作用。論壇面向測試測量儀器的應用人員和測試系統開發(fā)者及應用者,包括工業(yè)、通信、航空航天、國防等行業(yè)的研發(fā)與應用工程師、教育工作者。

          《電子產品世界》雜志社與慕尼黑(上海)有限公司將于2011年3月15日在上海新國際博覽中心共同舉辦“EEPW第四屆國際及應用大會(ITMAF2011)” 期待您的參與!

          主要議題

          主題(上午):測試應用與數據采集

          主題(下午):半導體及生產設備測試測量解決方案

          半導體測試技術

          無源器件測試解決方案

          高可靠性測試測量解決方案

          航空航天測試應用與數據采集

          自動化測試方案平臺設計與解決方案及最新發(fā)展趨勢

          雷達、射頻微波測試測量解決方案

          苛刻環(huán)境下對測試測量儀器的特殊要求

          目標聽眾

          測試測量儀器的應用人員和測試系統開發(fā)者及應用者,包括集成電路半導體、工業(yè)、通信、航空航天、國防等行業(yè)的研發(fā)與應用工程師、教育工作者。



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