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        選擇硬件在環(HIL)測試系統I/O接口

        作者:美國國家儀器公司(NI) 時間:2010-06-10 來源:電子產品世界 收藏

          確定性分布式I/O

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/109896.htm

          提供了全新的確定性分布式I/O產品,幫助您創建基于I/O的分布式硬件在環測試系統,降低布線成本和復雜性。從一系列I/O模塊中進行選擇,創建分布式I/O接口通過確定性的以太網與您的實時處理器進行通信。

          總線接口

          許多ECU使用通信總線接口與系統中的其他設備共享信息。提供了多種軍事/航天、汽車和工業總線接口,您還可以使用基于 FPGA的I/O接口為您的硬件在環測試系統實現定制協議。

          NI AIM PXI模塊的選擇包含MIL-STD-1553、ARINC 429以及AFDX接口。每個模塊都帶有板載應用程序支持的處理器、豐富的板載內存和IRIG-B時間代碼生成器/解碼器,滿足硬件在環測試系統的需求。 基于PXI的模塊能夠使用PXI背板提供的高級定時與同步功能。

          NI CAN與FlexRay接口基于通用API,使用集成數據庫用于對FIBEX、.DBC和.NCD文件的信號進行導入和編輯。還提供了DeviceNet、Modbus、PROFIBUS、RS232、RS485和RS422接口。

          儀器級I/O

          NI模塊化儀器在模塊化尺寸中提供了儀器級測量和信號發生,您可以集成到硬件在環測試系統中。從一系列數字萬用表(DMM)、示波器、信號發生器和射頻儀器中進行選擇,然后在軟件中進行配置滿足您特定測試系統的任務需求。



        關鍵詞: NI LabVIEW

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