選擇硬件在環（HIL）測試系統I/O接口

　　概覽

　　高性能模塊化的I/O接口是構建成功硬件在環測試系統所必須的。硬件在環(HIL)測試系統體系結構教程討論了多種硬件在環測試系統體系結構和用于實現的實時處理技術。本教程討論了多種I/O接口選項，能夠用于實時處理器創建您的硬件在環測試系統。

　　多功能I/O

　　硬件在環測試系統需要多種模擬、數字和計數器/定時器接口與被測電子控制單元(ECU)進行交互。NI多功能數字采集產品將所有功能集成在單個設備 中，為硬件在環測試系統I/O接口提供了高價值的選擇。高性能模擬數字和數字模擬轉換器結合了用于計數器/定時器功能和與實時處理器之間進行低延時數據傳 輸的板載處理能力，讓這些接口成為硬件在環測試系統應用的理想選擇。

　　基于FPGA的I/O

　　基于NI現場可編程門陣列(FPGA)的I/O將模擬I/O以及數字I/O與FPGA整合在單個儀器中。這些設備使用NI可重復配置I /O(RIO)FPGA技術，它提供了用于可編程的FPGA功能，可以用于創建定制I/O功能并減少實時處理器進行模型執行和信號處理的負荷，從而提高硬 件在環測試系統的性能。使用NI LabVIEW FPGA模塊，您可以定義您自己的硬件特性，而無需具備硬件描述語言的深入知識。