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        用于確保信號完整性的ESD保護器件新結構

        作者:周智勇 特約撰稿人 時間:2009-12-11 來源:電子產品世界 收藏

          從圖2對1.65Gbit/s數據率信號的測量中,比較左上角采用0.6pF電容的保護器件測得的與右下角未使用保護器件測得的可見,保護器件的電容越低,對信號質量退化的影響越小。圖2中左下角和右上角顯示了ESD保護器件的電容分別是2.5pF和3.5pF時眼圖質量變差的情形。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/101086.htm

          降低ESD保護器件電容的新結構和材料

          為了克服傳統(tǒng)ESD保護二極管的局限,多年前安森美半導體已經采用突破性的工藝技術,將超低電容PIN二極管和大功率TVS二極管集成在單個裸片上,從而實現(xiàn)高性能片外ESD保護解決方案。這種集成型ESD保護技術既保留了傳統(tǒng)硅TVS二極管技術的良好鉗位和低泄漏性能,又將電容大幅降低至0.5pF。0.5pF的總電容使ESD保護器件適用于USB2.0高速(480Mbit/s)和高清多媒體接口()(1.65Gbit/s)等高速應用。

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