EMC測(cè)試電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)匯總

電磁兼容性測(cè)試（Electro Magnetic Compatibility - EMC測(cè)試）是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。通俗一點(diǎn)說(shuō)，就是產(chǎn)品工作起來(lái)時(shí)不受外界的電磁干擾，自身發(fā)射出來(lái)的電磁信號(hào)也不會(huì)干擾周?chē)渌碾娮釉O(shè)備。各自達(dá)到一個(gè)相互兼容的狀態(tài)。

電磁兼容測(cè)試基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)主要是指GB/T17626系列標(biāo)準(zhǔn)，我們學(xué)習(xí)電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)也是從基礎(chǔ)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)起。

1.GB/T17626.1-2006,IEC61000-4-1:2000《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論》；

2.GB/T17626.2-2018,IEC61000-4-2:2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》；

3.GB/T17626.3-2023,IEC61000-4-3:2020《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)》；

4.GB/T17626.4-2018,IEC61000-4-4:2012《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》；

5.GB/T17626.5-2019,IEC61000-4-5:2014《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》；

6.GB/T17626.6-2017,IEC61000-4-6:2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)》；

7.GB/T17626.7-2017,IEC61000-4-7:2009《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器的導(dǎo)則》；

8.GB/T17626.8-2006,IEC61000-4-8:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)》；

9.GB/T17626.9-2011,IEC61000-4-9:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)》；

10.GB/T17626.10-2017,IEC61000-4-10:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)》；

11.GB/T17626.11-2008,IEC61000-4-11:2004《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》；

12.GB/T17626.12-2013,IEC61000-4-12:2006《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 振鈴波抗擾度試驗(yàn)》；

13.GB/T17626.13-2013,IEC61000-4-13:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)》；

14.GB/T17626.14-2005,IEC61000-4-14:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)》；

15.GB/T17626.15-2011,IEC61000-4-15:1997《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范》；

16.GB/T17626.16-2007,IEC61000-4-16:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 0~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)》；

17.GB/T17626.17-2005,IEC61000-4-17:2002《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)》；

18.GB/T17626.18-2016,IEC61000-4-18:2011《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)》；

19.GB/T17626.20-2014,IEC61000-4-20:2010《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 橫電波（TEM）波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)》；

20.GB/T17626.21-2014,IEC61000-4-21:2011《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)混波試驗(yàn)方法》；

21.GB/T17626.22-2017,IEC61000-4-22:2017《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)量》；

22.GB/T17626.24-2012,IEC61000-4-24:1997《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法》；

23.GB/T17626.27-2006,IEC61000-4-27:2000《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)》；

24.GB/T17626.28-2006,IEC61000-4-28:2001《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)》；

25.GB/T17626.29-2006,IEC61000-4-29:2000《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)》；

26.GB/T17626.30-2012,IEC61000-4-30:2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電能質(zhì)量測(cè)量方法》；

27.GB/T17626.31-2021,IEC61000-4-31:2016《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第31部分：交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)》；

28.GB/T17626.34-2012,IEC61000-4-34:2009《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 主電源每相電流大于16A的設(shè)備的電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)》。

檢測(cè)試驗(yàn)找彭工136-9109-3503