匠心獨運：三海產品背后的故事與魅力

ENTERPRISE

STORY

COMPANY INTRODUCTION

始于卓越、立于行動、可靠服務、質量報國

杭州三海電子科技股份有限公司

杭州三海電子科技股份有限公司（以下簡稱“三海科技”）創始于2002年，是一家專業從事可靠性檢測設備研發生產的國家級高新技術企業，并于2023年入選國家工信部第五批專精特新“小巨人”名單。

三海科技一直專注于元器件老煉檢測系統的研發，始終引領國內元器件老煉檢測系統的發展潮流，二十年來已經為全國300多家單位提供了數百個品種的相關設備，并以元器件可靠性檢測技術為基礎，橫向衍生出諸如射頻器件三溫測試系統的元器件測試設備，縱向派生出電子部件可靠性檢測系統、機電產品可靠性檢測系統，儲能單元可靠性檢測系統等諸多部件級系統級可靠性檢測設備，二者與元器件老煉檢測系統共同構筑起可靠性之橋，保障工業發展的蓬勃騰飛。

三海科技擁有一支百余人的產品研發團隊，掌握產品的核心技術，擁有完全的自主知識產權，能夠根據用戶的需求快速準確地提供完整的可靠性檢測設備解決方案以及生產配套的定制型產品。三海科技始終堅持“質量第一、用戶至上”的經營理念，在嚴酷的競爭環境下，仍然一如既往地堅持硬件物料優選，按照質量管理體系對每一道工序實施嚴格的工藝管理，保證產品的可靠性、維修性、測試性、保障性和安全性，贏得了用戶的一致贊譽。

三海科技始終秉承“始于卓越、立于行動、可靠服務、質量報國”的發展愿景，不斷持續提升產品的技術性能和品質，助力我國軍民用裝備可靠性水平的提升，助力我國可靠性事業的全面騰飛。

產品介紹

PART ONE

Evo-P系列

封裝級老化檢測系統

靈活的高產出可靠性驗證與測試總體解決方案。

支持DIP、QFN、DFN、TO、TOLL等多種封裝類型的定制開發。

支持高功率(>2000V)和高溫加熱(~200℃)能力。

最大支持同時9.8Kpcs產品同時老化(數量依據封裝類型定義)。

支持增強型(E-Mode)、耗盡型(D-Mode)和共源共柵(Cascode)型器件。

支持MES，YMS及EAP軟件訪問系統，并支援SECS/GEM半導體通信協議，支持產品漏電流監控，并實時數據記錄。

系統具有自檢測(診斷和校準)能力。

支持圖形用戶界面和產品MAP圖輸出(支持CSV/TXT等相關格式)。

PART TWO

ES-ICDH01

超大規模集成電路老化系統

適用于支持MCU、SOC、ARM、FPGA、存儲器、邏輯器件等集成電路器件的高溫工作壽命試驗(HTOL)，使器件進行真正意義上老化邊測試。

試驗封裝：支持SOP、DIP、DFN、QFP、LCC、

BGA等各種封裝規格...

試驗能力：全雙向 I/0 通道，128~192路/槽位(可選)；100MHz(100MHz內按39.0625pS分辨率任意可調)；Pattern深度16~32M行(可選)；支持RL、RH、NR、SBL、SBH、SBC等信號格式輸出;支持none、repeat、loop、keepalive、halt向量指令，VIL、VIH、VOL、VOH：0~5V可程控

——

PART THREE

CS-IMSNPC

功率循環測試系統

適用于各種封裝類型的功率模塊的功率循環試驗、可進行秒級(s)/分鐘級(min)的功率循環試驗。

符合標準：IEC60749-34、AQG-324..

試驗模式：電性考核、例行品質、器件鑒定...

試驗對象：各種封裝類型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET等功率模塊...

試驗場合：軍工電子、汽車電子、消費電子,半導體器件設計和封測企業…

PART FOUR

ES-PDSHGB

高溫柵偏老煉檢測系統(HTGB)

適用于各種封裝形式的半導體分立器件的高溫柵偏試驗和老煉篩選。

符合標準：GJB128、MIL-STD-750...

試驗模式：電性考核、例行品質、器件鑒定…

試驗對象：IGBT、場效應管...

試驗場合：軍工電子、汽車電子、消費電子半導體器件設計和封測企業…

——

PART FIVE

ES-PDSMRB

高溫高濕反偏老煉檢測系統(H3TRB)

適用于TO220、TO247、TO3P、TO252、T0263等封裝型的各種功率半導體器件進行高溫高濕反偏試驗。

符合標準：JEDEC、MIL-STD-750、GJB128...

試驗模式：電性考核、例行品質、器件鑒定..

試驗對象：二極管、三極管、MOSFET、IGBT、SiC...

試驗場合：軍工電子、汽車電子、消費電子、半導體器件設計和封測企業。

PART SIX

ES-PDSHRB

高溫反偏老煉檢測系統(HTRB)

適用于各種封裝形式的半導體分立器件的高溫柵偏試驗和老煉篩選。

符合標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108...

試驗模式：電性考核、例行品質、器件鑒定…

試驗對象：IGBT、場效應管..

試驗場合：軍工電子、汽車電子、消費電子半導體器件設計和封測企業。

——

PART SEVEN

CS-PDSNPC

間歇工作壽命老煉檢測系統(IOL)

適用于各種封裝(TO-254、TO-257、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)及類型單管(MOSFET、IGBT、Si基/Sic Diode等)的功率半導體電子元器件功率循環/間歇工作壽命試驗和穩態功率老煉試驗。

符合標準：MIL-STD-750、GJB128、JESD22-A122、AEC-O101...

試驗模式：電性考核、例行品質、器件鑒定

試驗對象：二極管、三極管、MOS管、IGBT管

試驗場合：軍工電子、汽車電子、消費電子、半導體器件設計和封測企業...

PART EIGHT

ES-PDSMHA

高加速應力試驗系統(BHAST)

適用于三極管、MOS、IGBT和可控硅等非氣密性半導體器件的高加速應力試驗（HAST/BHAST）、不加電的加速應力試驗（UHAST）和高壓蒸煮試驗（PCT/AC）。

符合標準：JESD22-A110，JESD22-A118，JESD22-A101...

試驗模式：電性考核、例行品質、器件鑒定...

試驗對象：二極管、三極管、效應管、可控硅、三端穩壓集成器、光電耦合器、電阻器...

試驗場合：軍工電子、汽車電子、消費電子、半導體器件設計和封測企業...

聯系方式

——

總公司 | 杭州三海電子科技股份有限公司

電話 | 0571-89081127

地址 | 杭州市余杭區閑興路25號13幢

-

陜西公司 | 陜西三海電子科技有限公司

電話 | 029-89250869

地址 | 西安市高新區西太路526號信息產業園二期4號樓B2-01

-

金華淖悅 | 金華市淖悅精密科技有限公司

電話 | 0579-82690081

地址 | 金華市婺城區夾溪路1678號1號廠房