羅杰斯｜你問我答｜第一期

Q：相同材料下測得的電路插入損耗與羅杰斯的數據有差異

A：一般傳輸線的電路的插入損耗通常可以分為兩個部分，分別是介質損耗和導體損耗。在使用相同電路材料，在相同頻率的情況下，介質損耗視為相同，那么這個差異可以從導體損耗去尋找差異。

首先，是否使用相同的電路形式，比如羅杰斯通常采用微帶線的方式測試電路的損耗特性，那么對比時是否也是使用微帶線的傳輸線，導體寬度是否相同。導體寬度越窄會導體損耗越大。

其次，羅杰斯所提供的數據中均沒有任何的表面處理，僅裸銅的損耗。而如果對比時的電路采用了表面處理，由于表面處理的導電性通常更大，因此會增加導體損耗。

再者，在相同導體寬度也無表面處理的情況下，還需要注意關注對比的電路的回波特性，特別是在較高頻率下回波特性更容易導致能量損失，造成更大的電路損耗。

因此，從這幾個方面去分析對比，可以得到問題所在。

Q：毫米波下的介電常數測試

A：對于材料的介電常數的測試和評估有很多種不同的方法，主要可以分為基于原材料的測試方法和基于電路的測試方法。

一方面，基于原材料的測試方法的準確度很大程度上取決于測試夾具的精度和可重復性。目前能準確測試毫米波頻段下的材料性能的測試方法較少，且其中絕大多數方法測試的時材料平面內的介電常數，而非與實際電路的電場方向一致的厚度方向的介電常數。這樣得到的介電常數與實際電路會有一定的差異。

另一方面，可以采用基于電路的測試方法來評估測試材料在毫米波下的介電常數，比如使用諧振電路形式或傳輸反射的方法。傳輸反射法最為常用的是基于微帶線的介電常數測試方法，而諧振電路法常用的是諧振環方法。相比之下，微帶線電路更為簡單，不容易受加工容差的影響，而諧振環更容易受到加工等容差變化影響，比如諧振環耦合耦合間隙、銅厚、諧振環直徑大小等變化會造成諧振頻率偏移，從而造成得到的介電常數偏移。

總的來說，毫米波下的介電常數的測試變得更加的困難和易受影響，選擇一種適合并與應用電路相近的測試方法能更好的評估材料的特性。

Q：PTFE材料在POFV制程上的適用性

A：POFV工藝需要做機械磨刷，而PTFE材料材質軟不建議做機械磨刷。

對于雙面PTFE板會有較大難度，因為機械磨刷會導致PTFE材料尺寸發生變化難以控制，可能會導致報廢。如果選擇有玻璃布增強的PTFE材料，并嚴格控制機械磨刷的條件，做POFV工藝是可行的。

對于PTFE與熱固性材料的混壓多層板，多層板的尺寸穩定性是由熱固性材料決定的，所以機械磨刷后并不會因為尺寸變形而導致報廢。但在機械磨刷PTFE材料這一面時需要注意凹坑凹點的產生。綜合以上，在PTFE材料上做POFV工藝有難度，但是可行的。