顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀PD系列

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀|顆粒碰撞噪聲測(cè)試儀|粒子碰撞噪聲檢測(cè)儀|微粒碰撞噪聲檢測(cè)儀|PIND|4511|FELIX|微粒碰撞噪聲多余物自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)

（國(guó)軍標(biāo) QJ 2863、QJ 789A、GJB65B、GJB128A、GJB548B、GJB360B、GJB2888A）

 QJ 2863 QJ 789A GJB65B GJB128A GJB548B GJB360B GJB2888A

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 PD50

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 PD50R

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 PD100

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀 PD100R

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀（官網(wǎng)）： www.pindyiqi.com

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀，顆粒碰撞噪聲測(cè)試儀，粒子碰撞噪聲檢測(cè)儀，微粒碰撞噪聲檢測(cè)儀，PIND，FELIX，4511，PD

產(chǎn)品型號(hào)：（窄脈沖）PD50（50mm臺(tái)面），PD100（100mm臺(tái)面）

（寬脈沖）PD50R（50mm臺(tái)面），PD100R（100mm臺(tái)面）

PIND的含義為顆粒碰撞噪聲檢測(cè)，該技術(shù)是通過振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)生沖擊和振動(dòng)來檢測(cè)在集成電路等封裝元器件中的松散顆粒。成都頻德儀器有限公司的PIND產(chǎn)品為用戶提供了一個(gè)操作簡(jiǎn)便、性能可靠且性價(jià)比極高的顆粒碰撞噪聲檢測(cè)設(shè)備，本產(chǎn)品的應(yīng)用極大地提高了電子元器件產(chǎn)品的可靠性。 用來測(cè)試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測(cè)集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。

工作原理：顆粒碰撞噪聲檢測(cè)（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一種對(duì)多余物檢驗(yàn)的有效手段。其原理是利用振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)生一系列指定的機(jī)械沖擊和振動(dòng)，通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松 動(dòng)，再通過一定頻率的振動(dòng)，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移?；顒?dòng)的多余物在產(chǎn)品中發(fā)生位移的過程，是多余物相對(duì)產(chǎn)品殼體的滑動(dòng)和撞擊的一個(gè)隨機(jī)組合過程。在這個(gè)過程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。這兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播并形成混響信號(hào)，這個(gè)混響信號(hào)被定義為位移信號(hào)。采用壓電傳感器拾取到位移信號(hào)后，經(jīng)前置放大器放大，位移信號(hào)由檢測(cè)裝置的主機(jī)采集、處理并顯示。檢測(cè)人員可以依據(jù)顯示的信號(hào)波形判定出信號(hào)性質(zhì)，以此得出檢測(cè)結(jié)論。

選型說明：每種型號(hào)的顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀都包括：控制器，振動(dòng)臺(tái)，傳感器，靈敏度套件，電腦，電纜，耗材及相關(guān)文件。。其型號(hào)選擇主要根據(jù)被測(cè)件的重量和外型尺寸而定，我們的標(biāo)準(zhǔn)振動(dòng)臺(tái)可測(cè)負(fù)載重量，全頻率范圍內(nèi)為400克，換能器臺(tái)面直徑為50-100mm，換能器因在其中心區(qū)域50%面積處?kù)`敏度，故實(shí)際臺(tái)面選擇時(shí)換能器面積要略大于被測(cè)件 大扁平面面積。

設(shè)備用途：用于電子元器件封裝后，對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn)，目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子，是一種非破壞性實(shí)驗(yàn)。用來測(cè)試電器零件從而提高電器零件的可靠性。

適用領(lǐng)域：用于檢測(cè)集成電路、晶體管、電容器、航空、航天及相關(guān)軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。