逐次逼近 文章 進入逐次逼近技術(shù)社區(qū)
基于40 nm CMOS工藝的高速SAR ADC的設(shè)計
- 基于40 nm CMOS工藝，設(shè)計了一種高速逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。本設(shè)計采用了非二進制冗余DAC技術(shù)來緩解ADC對建立時間和建立精度的要求，來提高ADC量化的準確性;采用帶有預(yù)放大級的高速比較器來提高比較器的精度，同時減小后級Latch的回踢噪聲，采用了兩級Latch來進一步提高比較器的速度;采用基于鎖存器的鎖存單元來提高SAR邏輯控制電路的速度，并且采用了異步時序控制，不需要外部時鐘，有利于提高SAR ADC的速度，并降低了設(shè)計的復(fù)雜度。設(shè)計的SAR ADC在160 MHz的采樣頻率下，在不同輸入信號頻
- 關(guān)鍵字： 高速通信 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 逐次逼近 非二進制 201803
10位逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器的芯片設(shè)計
- 1 引言A/D轉(zhuǎn)換器是模擬系統(tǒng)與數(shù)字系統(tǒng)接口的關(guān)鍵部件，可以將需要測量的模擬信號精確地轉(zhuǎn)換成數(shù)字量信號。一旦以數(shù)字形式出現(xiàn)，就能簡單而準確地對其進行處理，從而提取出有用的信息?，F(xiàn)代電子系統(tǒng)中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（A
- 關(guān)鍵字： 逐次逼近 芯片設(shè)計 轉(zhuǎn)換器
一種中速高精度模擬電壓比較器的設(shè)計
- 關(guān)鍵字： 比較器 鎖存囂 失調(diào)校準 弱正反饋 逐次逼近
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