- 受電磁干擾影響，單片機的程序讀取時會出錯，最終造成程序走飛和數據出錯。目前廣泛采用的看門狗技術只對部分程序走飛現象有效，而對程序執行錯造成的數據錯無效。根據報道的受干擾而造成數據錯概率統計數據，計算出引起MCU系統失效的概率已遠大于功能安全要求的失效率。為了解決這一問題，需要對讀取的程序指令加以檢驗。國外有的單片機已經添加了這一功能，即糾錯編碼(ECC)。本文建議一種簡化的檢驗功能，它基于并行的CRC檢驗，提出了求取并行CRC檢驗邏輯的方法。
- 關鍵字：
單片機 程序糾錯編碼 并行CRC
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