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        一種基于40nm CMOS工藝的新型溫度補償、高電源抑制比的帶隙基準源

        • 基于TSMC40LP工藝設計了一種新穎的溫度補償、高電源抑制比的帶隙基準源。本設計采用全MOSFET設計,工作于1.1 V電源電壓,通過將MOSFET偏置在零溫度系數工作點,并結合溫度補償技術和有源衰減電路,實現在-40 ℃~125 ℃內溫度變化系數為6.6 ppm/℃,低頻下電源抑制比為93 dB,高頻下電源抑制比為56 dB,與此同時,利用阻抗調試對環路穩定性進行了補償。
        • 關鍵字: 帶隙基準  全CMOS  低電源電壓  曲率補償  高電源抑制比  零溫系數點  201804  
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