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NI發(fā)布業(yè)界首臺(tái)基于PXI平臺(tái)的RF矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）

　　NI近日推出了NI PXIe-5630 6 GHz雙端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)，這是自動(dòng)化測(cè)試行業(yè)首臺(tái)基于PXI總線的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。借助全新的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可對(duì)前向參數(shù)和反向參數(shù)(T/R)進(jìn)行全面的矢量分析。此外，該矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還提供精密自動(dòng)校準(zhǔn)功能，并且基于靈活的軟件定義架構(gòu)，非常適用于自動(dòng)化設(shè)計(jì)驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試。該矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀基于PXI模塊化架構(gòu)，只需占據(jù)兩個(gè)PXI槽位，使測(cè)試工程師可以在有限空間中將矢量網(wǎng)絡(luò)分析整合進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)，而無需增加額外成本或使用體積較大的傳統(tǒng)臺(tái)式儀器。　　&ld
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NI全新高通道數(shù)擴(kuò)展機(jī)箱幫助LabVIEW FPGA和C系列產(chǎn)品擴(kuò)展I/O數(shù)

　　美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)近日發(fā)布NI 9157和NI 9159 MXI-Express RIO機(jī)箱，以及NI 9148以太網(wǎng)RIO機(jī)箱，這三款新產(chǎn)品在現(xiàn)有的NI 9144 EtherCAT機(jī)箱基礎(chǔ)上，進(jìn)一步擴(kuò)展了NI基于各種總線的高通道數(shù)擴(kuò)展機(jī)箱系列產(chǎn)品。利用NI可重配置I/O(RIO)技術(shù)，這些機(jī)箱將基于現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)的硬件和C系列I/O應(yīng)用到了需要數(shù)百甚至數(shù)千通道數(shù)的應(yīng)用。每一個(gè)擴(kuò)展機(jī)箱含有一個(gè)可用NI LabVIEW FPGA模塊編
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NI發(fā)布面向USB的X系列多功能DAQ

　　美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)近日發(fā)布面向USB的X系列多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備。USB X系列設(shè)備將高性能模擬測(cè)量和控制通道，數(shù)字I/O和計(jì)數(shù)/定時(shí)器集成到一個(gè)即插即用的設(shè)備，工程師和科學(xué)家可以將這一設(shè)備用于多種便攜式測(cè)試、測(cè)量和數(shù)據(jù)記錄應(yīng)用。USB X系列DAQ設(shè)備包括了多達(dá)32個(gè)模擬輸入、4個(gè)模擬輸出、48個(gè)數(shù)字I/O線和4個(gè)計(jì)數(shù)器。這八款全新設(shè)備速率從500kS/s多路模擬輸入(AI)到每通道2 MS/s同步采樣AI不等。　　NI LabVI
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NI推出最新以太網(wǎng)數(shù)據(jù)采集平臺(tái)

　　NI近日發(fā)布了最新基于以太網(wǎng)的NI CompactDAQ模塊化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，該系統(tǒng)結(jié)合了數(shù)據(jù)記錄儀的易用性和高性價(jià)比，以及模塊化儀器的高性能和靈活性。最新NI cDAQ-9188機(jī)箱可支持八個(gè)I/O模塊在一個(gè)小巧堅(jiān)固的封裝內(nèi)(25cm×9cm×9cm)測(cè)量多達(dá)256個(gè)通道的電子、物理、機(jī)械或聲音信號(hào)。利用超過50個(gè)不同的可選I/O模塊，工程師和科學(xué)家能夠使用標(biāo)準(zhǔn)千兆位以太網(wǎng)結(jié)構(gòu)，創(chuàng)建遠(yuǎn)程或分布式高速測(cè)量系統(tǒng)。　　“我們選擇NI CompactDAQ，因?yàn)楦鞣N
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NI 擴(kuò)展無線傳感器網(wǎng)絡(luò)(WSN)平臺(tái)

　　NI近日發(fā)布了NI 9792和NI WSN-3226，擴(kuò)展了NI無線傳感器網(wǎng)絡(luò)(WSN)平臺(tái)的無線通信和測(cè)量功能。全新NI 9792是一個(gè)可編程WSN網(wǎng)關(guān)，能夠通過多種開放式通信標(biāo)準(zhǔn)，與NI WSN測(cè)量節(jié)點(diǎn)以及其他硬件進(jìn)行通信。該網(wǎng)關(guān)集成了NI LabVIEW實(shí)時(shí)控制器和內(nèi)置的WSN無線收發(fā)器，可以幫助實(shí)現(xiàn)LabVIEW實(shí)時(shí)應(yīng)用在網(wǎng)關(guān)上本地運(yùn)行，并收集來自NI WSN設(shè)備的數(shù)據(jù)，NI 9792是嵌入式無線數(shù)據(jù)記錄應(yīng)用的理想選擇。而全新NI WSN-3226電壓/電阻式溫度檢測(cè)器(RTD)多功能節(jié)點(diǎn)可支
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用于以太網(wǎng)的NI CompactDAQ

　　概覽　　與USB技術(shù)相似，運(yùn)用以太網(wǎng)技術(shù)可以帶來更便捷、更可靠的用戶體驗(yàn)。推出的NI cDAQ-9188底座增加了以太網(wǎng)的接口，從而將基于PC的NI CompactDAQ數(shù)據(jù)采集平臺(tái)的應(yīng)用范圍擴(kuò)展到遠(yuǎn)程或分布式傳感器和電信號(hào)測(cè)量中。擁有以太網(wǎng)接口的cDAQ-9188底座與擁有USB接口的cDAQ-9178底座的基本參數(shù)幾乎完全相同，兩者的唯一區(qū)別是連接數(shù)據(jù)線纜的長(zhǎng)度不同。　　基于以太網(wǎng)的數(shù)據(jù)采集技術(shù) 　　相比兩個(gè)普通PC外部總線連接，以太網(wǎng)具有的優(yōu)勢(shì)是：極長(zhǎng)的數(shù)據(jù)電纜長(zhǎng)度和可以利用現(xiàn)成的
關(guān)鍵字： NI 以太網(wǎng) 電信號(hào)測(cè)量

業(yè)內(nèi)第一臺(tái)PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀介紹

　　全新的PXI Express(PXIe) RF儀器為您的自動(dòng)化設(shè)計(jì)驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)增添矢量網(wǎng)絡(luò)分析功能。　　NI公司在2002年推出其第一臺(tái)RF矢量信號(hào)分析儀(VSA)之后，一直致力于為客戶提供快速、靈活、精確的PXI儀器，而且其成本僅是傳統(tǒng)箱型儀器的幾分之一。現(xiàn)如今，NI的RF系列產(chǎn)品已經(jīng)發(fā)展壯大，包括多通道RF信號(hào)發(fā)生器和分析儀、USB功率計(jì)、PXI RF調(diào)制模塊，并開發(fā)了許多的軟件工具包，用以支持不斷增加的各種無線標(biāo)準(zhǔn)。　　今年，NI的PXI RF系列產(chǎn)品又增添了一個(gè)新成員，NI
關(guān)鍵字： NI 網(wǎng)絡(luò)分析儀

使用基于PXI的儀器和高速流盤技術(shù)進(jìn)行下一代射電天文接收機(jī)算法原型開發(fā)

　　作者: 　　J. Richard Fisher - National Radio Astronomy Observatory 　　Matthew A.. Morgan - National Radio Astronomy Observatory 　　行業(yè): 　　航空/航天, 科研　　產(chǎn)品: 　　PXI-5105, PXI-5152, NI PXIe-8105, PXI-6562, HDD-8263, NI PXIe-1062Q 　　挑戰(zhàn): 　　運(yùn)用現(xiàn)代數(shù)字計(jì)算的最新進(jìn)展，開發(fā)下一代高
關(guān)鍵字： NI 射電航天接收機(jī) 數(shù)據(jù)采集

使用NI軟硬件開發(fā)完整的生產(chǎn)測(cè)試解決方案

　　作者: 　　Jim Svenningsen - Danfoss Solar Inverters A/S 　　行業(yè): 　　能源/電力, Manufacturing 　　產(chǎn)品: 　　TestStand, LabVIEW, PXI-8432/2, PXI-8433/2, PCI-6229, PXI-6229, PCI-8433/2, PXI-2566, PXI-2501, PXI-6704, PXI-2593 　　挑戰(zhàn): 　　為丹佛斯太陽(yáng)能逆變器產(chǎn)品和印刷電路板(PCB)開發(fā)一個(gè)靈活的生產(chǎn)測(cè)試
關(guān)鍵字： NI 生產(chǎn)測(cè)試太陽(yáng)能逆變器

什么是X系列?

　　X系列設(shè)備是美國(guó)國(guó)家儀器公司設(shè)計(jì)至今最高級(jí)的多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備。其增強(qiáng)特性可滿足最苛刻的測(cè)量、測(cè)試和控制應(yīng)用。　　X系列設(shè)備可采用USB、PCI Express和PXI Express總線，每種設(shè)備都包含模擬I/O、數(shù)字I/O和4個(gè)32位計(jì)時(shí)器/定時(shí)器。　　X系列設(shè)備將基于PC的多功能I/O的性能提升至新高度。設(shè)備包含了NI-STC3定時(shí)與同步技術(shù)、針對(duì)USB的NI信號(hào)流技術(shù)和本地 PCI Express接口以及針對(duì)多核處理器的驅(qū)動(dòng)軟件。　　X系列技術(shù) 　　為了拓展多功能設(shè)備的
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基于NI LabVIEW數(shù)據(jù)記錄和監(jiān)控（DSC）模塊的紙漿生產(chǎn)控制

　　挑戰(zhàn):　　創(chuàng)建一個(gè)用來監(jiān)測(cè)大型造紙廠紙漿的生產(chǎn)過程，以節(jié)約能源和降低成本。解決方案:為了增加吞吐量，節(jié)約能源，以及優(yōu)化生產(chǎn)過程，我們利用NI LabVIEW數(shù)據(jù)記錄和監(jiān)控(DSC)模塊來處理復(fù)雜的，非線性的建模過
關(guān)鍵字：模塊紙漿生產(chǎn) 控制 DSC 監(jiān)控 NI LabVIEW 數(shù)據(jù) 記錄

NI成功舉辦第六屆高校教師交流會(huì)

　　美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于7與20日在上海成功舉辦了第六屆NI高校教師交流會(huì)(ProfessorDay 2010) 。會(huì)議圍繞“創(chuàng)新”為主題，通過精彩的演講、展示和交流活動(dòng)，為來自全國(guó)90多所高校的200余名參會(huì)教師奉獻(xiàn)了一場(chǎng)關(guān)于圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)助力工程教育創(chuàng)新的技術(shù)盛宴。　　圍繞“創(chuàng)新”帶來的挑戰(zhàn)，NI中國(guó)院校市場(chǎng)經(jīng)理徐赟先生和特邀嘉賓辛辛那提大學(xué)講座教授、上海交通大學(xué)長(zhǎng)江學(xué)者李杰教授共同以精彩
關(guān)鍵字： NI LabVIEW 虛擬儀器

自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)展望

　　當(dāng)今，各種創(chuàng)新型技術(shù)層出不窮，對(duì)測(cè)試測(cè)量行業(yè)產(chǎn)生巨大影響。NI通過與不同行業(yè)工程師深入交流，結(jié)合學(xué)術(shù)研究、商業(yè)咨詢、用戶調(diào)查等多種工具，提出2010年測(cè)試測(cè)量工程師需要關(guān)注的五大技術(shù)主題。　　1采用標(biāo)準(zhǔn)化架構(gòu) 　　在企業(yè)產(chǎn)品線日益膨脹的情況下，采用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化架構(gòu)開發(fā)通用測(cè)試平臺(tái)是行之有效的方法，以提高產(chǎn)品從研發(fā)到生產(chǎn)測(cè)試的整個(gè)生命周期里測(cè)試硬件和軟件組件的復(fù)用性。一個(gè)理想的解決方案是：企業(yè)根據(jù)常用的實(shí)際測(cè)試需要定義一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化的“核心標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)”，針對(duì)不同型號(hào)產(chǎn)品和不同地
關(guān)鍵字： NI 自動(dòng)化測(cè)試

使用LabVIEW和CompactRIO實(shí)現(xiàn)清洗機(jī)流水線的自動(dòng)化

　　標(biāo)注所有位置和手部操控項(xiàng)的輸送帶　　作者: 　　M. Malovrh - Bosio d.o.o. 　　D. Kovacic - Bosio d.o.o. 　　A. Romih - Bosio d.o.o. 　　K. Martinovic - Bosio d.o.o. 　　行業(yè): 　　消費(fèi)品, 工業(yè)控制/ 設(shè)備/ 系統(tǒng) 　　產(chǎn)品: 　　NI 9425, PPC-2115, NI 9211, NI 9476, cRIO-9074, NI 9203, LabVIEW 　　挑戰(zhàn): 　
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使用LabVIEW和CompactRIO快速原型測(cè)量系統(tǒng)用于檢測(cè)電力系統(tǒng)中的高頻瞬變

　　使用CompactRIO檢測(cè)電弧的間歇性接地故障　　作者: 　　Christoffer Örndal - Department of Measurement Technology and Industrial Electrical Engineering, Lunds University 　　Andreas Andreas Jönsson - DLAB – Lund University 　　Magnus Akke - DLAB – Lund U
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