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Multitest：Quad Tech概念正是下一代垂直接觸技術(shù)
- 設(shè)計和制造最終測試分選機、測試座和負(fù)載板的廠商Multitest公司，日前宣布其Quad Tech概念正是下一代的垂直接觸技術(shù)。因其卓越測試良品率和超長探針壽命，從而具有顯著測試成本優(yōu)勢。 Quad Tech采用非套筒結(jié)構(gòu)，擁有四個內(nèi)部接觸點。該設(shè)計實現(xiàn)了出色電氣和機械性能。Quad Tech具有高電流功能、高帶寬和低電感等特點。從機械性能方面看，Quad Tech的長形變行程可適應(yīng)更大的Z軸高度公差。 Quad Tech的設(shè)計使Multitest可使用獨特且極為精確的生產(chǎn)工藝，該生產(chǎn)工藝
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Multitest交付首款I(lǐng)nPhone系統(tǒng)
- 德國羅森海姆，2011年9月----面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商，設(shè)計和制造最終測試分選機、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，已向一家知名IDM的歐洲基地交付首款I(lǐng)nPhone系統(tǒng)。配合Multitest InStrip 分選機，InPhone系統(tǒng)專用于MEMS麥克風(fēng)的高并行度MEMS測試與校準(zhǔn)。InStrip 配置適于InCarrier測試。因此，單粒MEMS封裝可通過InStrip分選機進(jìn)行高并行性測試。
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Multitest推出的Mercury測試座具有高達(dá)6%的合格率提升
- 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商，設(shè)計和制造最終測試分選機、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布，以出色的電氣及機械性能著稱的Mercury™測試座，在與另一強勁亞洲競爭廠家所產(chǎn)的知名測試座的逐個評估中，展現(xiàn)了其領(lǐng)先特性。 在一項大批量生產(chǎn)測試中，Multitest Mercury™測試座的一次合格率平均顯著提高了2至6個百分點。正是因為這一出色成績，一家國際性IDM已經(jīng)開始在多個器件的測試中使用Mercury™測
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Multitest推出全新三溫水平16測試位分選機
- 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商，設(shè)計和制造最終測試分選機、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，現(xiàn)推出新型16測試位三溫水平拿放式分選機：MT9510 x16。 該系統(tǒng)以成熟的MT95XX平臺技術(shù)為基礎(chǔ)，此平臺已擁有50多家客戶公司的600多套系統(tǒng)的安裝量。 與MT9510 XP類似，新的16測試位分選機保證了-55°C 到+175°C的出色溫度表現(xiàn)，并擁有多種選擇方案實現(xiàn)高等級靜電保護(hù)。系統(tǒng)運行速度高，并且可以很容易地廣泛用于各種封裝
- 關(guān)鍵字： Multitest 分選機 MT9510 x16
Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測試成本
- 面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商，設(shè)計和制造測試分選機、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其Dura?Kelvin測試座再次證明在超長的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠，Dura?Kelvin測試座顯著降低了總體測試成本。 在項目期限內(nèi)，首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura?Kelvin明顯超過了所有目標(biāo)，使用壽命已超過4百萬次插撥，這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98
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優(yōu)化測試單元產(chǎn)能：Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測試儀性能
- 面向集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測試分包商，設(shè)計和制造測試分選機、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計旨在實現(xiàn)最佳測試儀利用率。短Index時間（DUT交換時間）、快速上料與分類以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機與新一代測試儀保持同步。 理想情況下，如果分選機沒有局限性，增強的測試儀性能從兩方面優(yōu)化了測試單元產(chǎn)能：它們得益于更短測試時間和更高測試并行性的應(yīng)用。 目前很多先進(jìn)的分選機不能支持增強的測試儀性能，即使它們擁有多個相應(yīng)的測試位亦是如此
- 關(guān)鍵字： Multitest 測試負(fù)載 測試座
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