- 加利福尼亞州米爾皮塔斯，2019年7月9日- KLA公司（納斯達克股票代碼：KLAC）今日發布392x和295x光學缺陷檢測系統和eDR7380?電子束缺陷檢視系統。這些全新的檢測系統是我們公司旗艦產品系列——圖案晶圓平臺的進一步拓展，其檢測速度和靈敏度均有提升，代表了光學檢測的新水準。全新電子束檢視系統的創新使其自身價值進一步穩固，并成為缺陷和發現其產生根源之間的必要一環。對于領先的3D NAND、DRAM和邏輯集成電路（IC），該產品組合將縮短整個產品周期，加快其上市時間。“為了有利潤地制造下一代內存
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