前言目前的高端ASIC/ASSP/SoC器件開發商可考慮分為三大類:主流、早期采用者和技術領導者。在寫這篇文章的時候,主流開發商正致力于65納米技術節點設計,早期采用者開發商正專注于45/40納米節點設計,而技術領導者開
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Vortex Talus 32 28
條形碼一般被用于將關鍵的字母數字信息轉換為數字系統能夠掃描和讀取的符號信息,而無需每次都要將信息錄...
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2D條形碼 DSP CRC 解碼
CRC算法及工作原理, CRC檢驗 CRC校驗實用程序庫 在數據存儲和數據通訊領域,為了保證數據的正確,就不得不采用檢錯的手段。在諸多檢錯手段中,CRC是最著名的一種。CRC的全稱是循環冗余校驗,其特點是:檢錯能力極強,開銷小,易于
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原理 工作 算法 CRC
CRC標準及計算過程,標準 根據應用環境與習慣的不同,CRC又可分為以下幾種標準: ①CRC-12碼; ②CRC-16碼; ③CRC-CCITT碼; ④CRC-32碼。 CRC-12碼通常用來傳送6-bit字符串。 CRC-16及CRC-CCITT碼則是用來傳送8-bit
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過程 計算 標準 CRC
CRC校驗源碼學習,CRC 根據”權”(即多項表達式)的不同而相應的源代碼也有稍許不同。以下是各種常用的權。 CRC8=X8+X5+X4+1 CRC-CCITT=X16+X12+X5+1 CRC16=X16+X15+X5+1 CRC12=X12+X11+X3+X2+1 CRC32=X32+X2
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學習 源碼 校驗 CRC
1.系統的整體設計本系統用于測試直流電機控制器的功能和性能。測試內容主要包括測試控制器的電流 值、速度值和PWM 輸出的波形變化等。測試系統采集到這些值后,通過串口發送給PC 方 顯示,能夠方便用戶監看、分析。
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GP 32 直流電機 控制器
Semico總裁Jim Feldhan在奧斯汀舉行的ISMI討論會上表示,明年半導體工業將有20%的高增長,因而設備制造商有望得到未來數年的好年景。
與在兩天會議中部分經濟學家認為未來5年全球經濟將是暗淡的看法大相徑庭,Jim Feldhan認為今年第四季度前景尚好,即使明年第一季是傳統的淡季,也能有驚奇的增長。所以工業將呈現V型復蘇,其中部分產品的市場相當搶眼。下圖為部分終端電子產品的增長趨勢;
Semico看到寬帶、無線及社會網絡將是未來IC消費的推動者。
如
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GlobalFoundries 15納米 32 45納米
介紹Microchip公司的32位單片機PIC32MX460F512L及其并行接口模塊;基于該模塊與所羅門公司的SSD1926芯片接口,設計了具有觸摸和顯示功能的5.7 in TFT彩色液晶觸模屏;給出了控制策略、硬件接口電路和相關的程序流程,以及在噴水織機中的應用。實踐證明,效果良好。
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PIC 32 MX 液晶觸摸屏
對于基于閃存的嵌入式系統,一個重要的要求就是,當該系統安裝在終端產品上后具有更新固件的能力,即在應用中編程(In-Application Programming,IAP)。本文介紹了STM32F10x處理器的特點及內存映射;詳細論述了IAP功能的基本原理和IAP驅動流程;給出了在STM32F10x處理器中實現IAP功能的方法。
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STM 32F 32 F1
結合三相電機的調速控制原理,對高速數字信號處理器(DSP)TMS320F2812和三菱智能功率模塊DIP-IPM進行了詳細的介紹,提出了完整的的通用變頻電路設計方案。實驗結果表明,該方法控制精度高,工作穩定,能夠實現多種類型變頻調速。
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DIP-IPM 2812 TMS 32
【加州圣何塞市 2008 年 4 月 24 日訊】KLA-Tencor 公司(納斯達克股票代碼:KLAC)今天推出其稱為“晶片平面光罩檢測” (Wafer Plane Inspection, WPI) 的最新光罩檢測技術。該技術系業界首次在單一系統上提供既可查找光罩上的所有缺陷,又能顯示只印刷在晶片上的缺陷的多功能性,堪稱獨一無二的光罩檢測突破性技術。WPI不但征服了對優良率至關重要的 32 納米光罩缺陷檢測的挑戰,它的運行速度也比先前的檢測系統快達40%,從而有望縮短檢測光罩
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KLA-Tencor 光罩檢測 32 納米
1.?What are the characteristics of China's MCU market?
-?發展重點在消費電子和汽車領域
-?中國的MCU 市場對價格非常敏感,在選擇MCU 時,客戶考慮的是整個材料清單的成本,而非僅是MCU的成本。要產品取得成功,討論MCU材料清單的優點是非常重要的。
-?大部分客戶仍然不預計需要支付軟件費用。使用許可或使用計費的軟件模式在中國還沒有普遍受落。
-?另一方面,客戶要
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32-bit MCU 愛特梅爾
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