- 引言在微縮CMOS和精密模擬CMOS技術中對偏壓溫度不穩定性——負偏壓溫度不穩定性(NBTI)和正偏壓溫 度不穩定性(PBTI)——監測和控制的需求不斷增加。 當前NBTI1 的JEDEC標準將“測量間歇期
- 關鍵字：
VTH
- 摘要：傳統基準電路主要采用帶隙基準方案，利用二級管PN結具有負溫度系數的正向電壓和具有正溫度系數的VBE電壓得出具有零溫度系數的基準。針對BJT不能與標準的CMOS工藝兼容的缺陷，利用NMOS和PMOS管的兩個閾值電壓VT
- 關鍵字：
CMOS VTH 電壓基準
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