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        soc可測試 文章 最新資訊

        SOC的可測試性設計策略

        • 1引言可測試設計(DFT)是適應集成電路的發展要求所出現的一種技術,主要任務是對電路的結構進行調整,提高電路的可測性,即可控制...
        • 關鍵字: SOC可測試  
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        soc可測試介紹

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