- 8位RISC_CPU可測性設計,摘要：本文介紹了一款RISC_CPU的可測性設計,為了提高芯片的可測性,采用了掃描設計和存儲器內建自測試,這些技術的使用為該芯片提供了方便可靠的測試方案。1 引言隨著IC設計方法與工藝技術的不斷進步，集成電路結構和功
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設計 RISC_CPU 8位
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