- 8位RISC_CPU可測性設計,摘要:本文介紹了一款RISC_CPU的可測性設計,為了提高芯片的可測性,采用了掃描設計和存儲器內建自測試,這些技術的使用為該芯片提供了方便可靠的測試方案。1 引言隨著IC設計方法與工藝技術的不斷進步,集成電路結構和功
- 關鍵字:
設計 RISC_CPU 8位
risc_cpu介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條risc_cpu!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對risc_cpu的理解,并與今后在此搜索risc_cpu的朋友們分享。
創(chuàng)建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司

京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網安備11010802012473