jtag技術嵌入式系統(tǒng)電路特性測 文章 最新資訊
滿足嵌入式系統(tǒng)電路特性測試需求的JTAG技術
- 引言IEEE1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot1)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法，大多數復雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這...
- 關鍵字： JTAG技術嵌入式系統(tǒng)電路特性測
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jtag技術嵌入式系統(tǒng)電路特性測介紹
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