instruments公司 文章 最新資訊

基于虛擬儀器技術(shù)的手機(jī)翻蓋耐久性測(cè)試系統(tǒng)

• 基于虛擬儀器技術(shù)的手機(jī)翻蓋耐久性測(cè)試系統(tǒng)　手機(jī)翻蓋耐久性測(cè)試即將待測(cè)翻蓋手機(jī)重復(fù)開合預(yù)設(shè)的次數(shù)，然后觀察手機(jī)的各部分性能是否完好，這在翻蓋手機(jī)的生產(chǎn)過(guò)程中是相當(dāng)重要的一環(huán)。以往采用氣動(dòng)方式的系統(tǒng)運(yùn)行速度較慢（約為每2秒1次）且操作界面不夠友好。本文介紹的基于虛擬儀器技術(shù)的手機(jī)翻蓋耐久性測(cè)試系統(tǒng)采用NI Motion 控制模塊控制伺服電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，運(yùn)行速度可達(dá)到原來(lái)的4倍多且同時(shí)可對(duì)4部手機(jī)進(jìn)行測(cè)試，而采用National Instruments公司的虛擬儀器（LabVIEW）進(jìn)行開發(fā)，使操作界面非常友好。
• 關(guān)鍵字： National  Instruments公司