- 1 引言
隨著半導體工藝的發展，片上系統SOC已成為當今一種主流技術。基于IP復用的SOC設計是通過用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個系統，提高了設計效率，加快了設計過程，縮短了產品上市時間。但是隨著設計規模的增大，集成密度的提高，IP引腳的增多，IP的植入深度加大必然使得測試驗證工作繁重。據統計，在SOC設計中，各種內核的測試驗證工作所用的時間占整個設計過程的60％～80％，SOC及IP核的測試驗證已成為SOC技術發展的瓶頸。如何在最短的時間內高效迅速地通過IP核驗證與測試．并把其集
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IP核測
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