- 隨著ASIC電路結構和功能的日趨復雜,與其相關的測試問題也日益突出。在芯片測試方法和測試向量生成的研究過程中,如何降低芯片的測試成本已
- 關鍵字:
DFT掃描芯片測
dft掃描芯片測介紹
您好,目前還沒有人創建詞條dft掃描芯片測!
歡迎您創建該詞條,闡述對dft掃描芯片測的理解,并與今后在此搜索dft掃描芯片測的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司

京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網安備11010802012473