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        dft掃描芯片測 文章 最新資訊

        基于掃描的DFT對芯片測試的影響

        • 隨著ASIC電路結構和功能的日趨復雜,與其相關的測試問題也日益突出。在芯片測試方法和測試向量生成的研究過程中,如何降低芯片的測試成本已
        • 關鍵字: DFT掃描芯片測  
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        dft掃描芯片測介紹

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