- Cadence設計系統有限公司宣布，憑借其最新的數據壓縮以及成品率診斷性能，該公司正不斷擴展在測試和成品率診斷領域的 技術先導地位。新版Cadence® Encounter® Test通過為非專有的片上異或（XOR）測試數據壓縮結構提供更廣泛的支持,解決在制造高品質硅芯片過程中的費用上漲問題。此新型數據壓縮性能增強了自動化測試矢量生成(ATPG)和診斷產品之間的多廠商互操作性，并支持使用一站式診斷流程。 這種新型測試功能在
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