c-v測量技術參數提 文章 最新資訊
C-V測量技術、技巧與陷阱—— C-V測量參數提取的局限性
- 在探討C-V測試系統的配置方法之前，了解半導體C-V測量技術[1]的局限性是很重要的：·電容：從10fF到1微法·電阻：從01歐姆到100M歐姆·
- 關鍵字： C-V測量技術參數提
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c-v測量技術參數提介紹
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