- 應用材料公司推出 Applied SEMVision G5 系統，進一步推升在缺陷檢測掃描電子顯微鏡 (Scanning Electronic Microscope，簡稱SEM) 技術的領導地位，這是首款可供芯片制造商用于無人生產環境的缺陷檢測工具，能拍攝并分析20納米影響良率的缺陷。
據應材表示，SEMVision G5獨特的功能可識別并拍攝1納米畫素的缺陷，協助邏輯與內存客戶改善制程，比過去更快且更正確地找出造成缺陷的根本原因。
SEMVision G5系統配備最先進的1納米畫素、無與
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應用材料 20nm制程
- 據臺積電公司設計技術高級主管Ed Wan表示，臺積電20nm制程自動化設計系統將可支持雙重成像技術(double patterning)。相關的電路自動化布置軟件廠商將在臺積電20nm制程芯片設計用軟件中加入對雙重成像技術的支持，這樣芯片設計者就不需要像過去 那樣專門針對雙重成像技術進行計算。而一旦芯片設計方確定芯片電路的布局準則，那么臺積電的軟件便可將該設計拆分到兩個雙重成像用掩膜板上。
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臺積電 20nm制程
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