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        高頻疲勞試驗機 文章 最新資訊

        基于FPGA技術高頻疲勞試驗機控制器的設計

        • 現場可編程門陣列FPGA(FieldProgrammable Gate Array)是美國Xilinx公司于1984年首先開發的一種通用型用戶可編程器件。FPGA既具有門陣列器件的高集成度和通用性,又有可編程邏輯器件用戶可編程的靈活性。
        • 關鍵字: 定時器  FPGA  高頻疲勞試驗機  單片機  控制器  
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        高頻疲勞試驗機介紹

        高頻疲勞試驗機用于進行測定金屬、合金材料及其構件(如操作關節、固接件、螺旋運動件等)在室溫狀態下的拉伸、壓縮或拉壓交變負荷的疲勞特性、疲勞壽命、預制裂紋及裂紋擴展試驗。 高頻疲勞試驗機在配備相應試驗夾具后,可進行正弦載荷下的三點彎曲試驗、四點彎曲試驗、薄板材拉伸試驗、厚板材拉伸試驗、強化鋼條拉伸試驗、鏈條拉伸試驗、固接件試驗、連桿試驗、扭轉疲勞試驗、彎扭復合疲勞試驗、交互彎曲疲勞試驗、CT試驗、C [ 查看詳細 ]

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