高阻器件低頻噪聲測試技術厚膜電阻電壓噪 文章
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- 4.1電壓噪聲測試技術的驗證4.1.1測試技術驗證方案及驗證標準為了驗證該系統的可靠性，我們采用圖3.9中的測試方法對1M的厚膜電阻進行了電壓噪聲測試，其中Rx為待測阻值為1M的厚膜電阻，Rt為400K繞線電阻，R1為25K可變繞線電...
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高阻器件低頻噪聲測試技術厚膜電阻電壓噪
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