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門(mén)級(jí)
門(mén)級(jí) 文章 最新資訊
應(yīng)對(duì)百萬(wàn)門(mén)級(jí)系統(tǒng)級(jí)芯片驗(yàn)證挑戰(zhàn)的可擴(kuò)展解決方案
- 功能驗(yàn)證是電子設(shè)計(jì)人員目前面臨的主要挑戰(zhàn)，無(wú)論是設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)還是驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)，都將超過(guò)50%的時(shí)間用在糾錯(cuò)上，因此這一領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)展將對(duì)縮短產(chǎn)品上市時(shí)間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術(shù)和改進(jìn)的糾錯(cuò)方法，以及為
- 關(guān)鍵字： 門(mén)級(jí) 方案 系統(tǒng)級(jí) 芯片驗(yàn)證
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門(mén)級(jí)介紹
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