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電子元件老化——電壓基準中的長期漂移（LTD）
- 了解制造商如何表征和估計用于電子元件老化預測的電壓參考的長期漂移（LTD）。雖然電壓參考的輸出在理想情況下應該與溫度和時間無關，但現(xiàn)實世界的電壓參考可能會受到溫度和老化的影響。考慮到這一點，本文將討論制造商如何表征和估計電壓參考的LTD。為了更好地為本文做好準備，閱讀之前的文章以了解石英晶體、電阻器和放大器的老化效應可能很重要。電壓基準的老化效應總的來說，電壓基準的輸出會隨時間而變化。通常，半導體材料的摻雜水平和封裝材料施加到電壓參考管芯的物理應力會隨時間變化，導致電壓參考輸出中的LTD。電壓參考的LTD
- 關鍵字： 電子元件老化，電壓基準，長期漂移，LTD
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