- 0引言金屬磁記憶檢測技術自提出后一直具有良好的應用前景，但其理論研究的不足是制約該技術應用和發展的一大瓶頸，現有的理論研究認為，鐵磁材料結構表層的隱性缺陷會產生法向磁場分量過零值點，使得切向磁場分量取最
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金屬磁記憶 CPLD 集中區域
金屬磁記憶介紹
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