過(guò)電損傷 文章 進(jìn)入過(guò)電損傷技術(shù)社區(qū)

開(kāi)關(guān)電源芯片的失效分析與可靠性研究

• 摘要：隨著科技的飛速發(fā)展，電器設(shè)備的使用越來(lái)越廣泛，功能也越來(lái)越強(qiáng)大，體積也越來(lái)越小，導(dǎo)致了對(duì) 電源模塊要求在不斷增加。開(kāi)關(guān)芯片在應(yīng)用中失效，經(jīng)分析為電路設(shè)計(jì)本身可靠性差，導(dǎo)致開(kāi)關(guān)芯片失效。本 文通過(guò)增加放電與限流貼片電阻，對(duì)電路設(shè)計(jì)優(yōu)化更改，使電路工作可靠性明顯提高，滿足電路設(shè)計(jì)需求，改善后應(yīng)用失效大幅度減低。關(guān)鍵詞：弱電端短路；過(guò)電損傷；放電電阻；限流電阻；可靠性0 引言?現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)電源模塊的工作效率、體積以及安 全要求等技術(shù)性能指標(biāo)要求越來(lái)越高，開(kāi)關(guān)電源電路憑 借良好的性能在電
• 關(guān)鍵字： 202208  弱電端短路  過(guò)電損傷  放電電阻  限流電阻  可靠性