邊界掃描 文章 最新資訊
基于邊界掃描技術的電路板可測性設計分析
- 引 言 現(xiàn)代電子技術的高速發(fā)展對傳統(tǒng)的電路測試技術提出了新的挑戰(zhàn)。器件封裝的小型化、表面貼裝(SMT)技術的應用，以及由于板器件密度的加大而出現(xiàn)的多層印制板技術使得電路節(jié)點的物理可訪問性逐步減低，原來借助于針床的在線測試(ICT)的局限性日益增大。電路和系統(tǒng)可測試性的急劇降低導致測試費用占電路和系統(tǒng)總費用的比重越來越高。人們已意識到，單靠改善測試方法來實現(xiàn)電路的測試及故障診斷是遠遠不夠的。要從根本上解決問題，提高電路的可觀測性和可控制性，在電路系統(tǒng)設計之初就要充分考慮測試及故障診斷的要求，即進行可測性設
- 關鍵字： 模擬技術 電源技術 邊界掃描 電路板 表面貼裝 PCB 電路板
基于邊界掃描技術的數(shù)字系統(tǒng)測試研究
- 當今，微電子技術已經進入超大規(guī)模集成電路(VLSI)時代。隨著芯片電路的小型化及表面封裝技術(SMT)和電路板組裝技術的發(fā)展，使得傳統(tǒng)測試技術面臨著巨大的挑戰(zhàn)。在這種情況下，為了提高電路和系統(tǒng)的可測試性，聯(lián)合測試行動小組(JTAG)于1987年提出了一種新的電路板測試方法--邊界掃描測試，并于1990年被IEEE接納，形成了IEEE1149．1標準，也稱為JTAG標準[1]。這種技術以全新的"虛擬探針"代替?zhèn)鹘y(tǒng)的"物理探針"來提高電路和系統(tǒng)的可測性。由于JTAG標準的通用性很好，現(xiàn)在許多IC公司都提供了支
- 關鍵字： 邊界掃描 測量 測試 數(shù)字系統(tǒng)
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