輻射發(fā)射測試 文章 進入輻射發(fā)射測試技術(shù)社區(qū)

輻射發(fā)射測試：如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)以實現(xiàn)緊湊、高性價比的隔離設(shè)計

• 出于各種原因，電子系統(tǒng)需要實施隔離。它的作用是保護人員和設(shè)備不受高電壓的影響，或者僅僅是消除PCB上不需要的接地回路。在各種各樣的應(yīng)用中，包括工廠和工業(yè)自動化、醫(yī)療設(shè)備、通信和消費類產(chǎn)品，它都是一個基本設(shè)計元素。雖然隔離至關(guān)重要，但它的設(shè)計也極其復(fù)雜。控制功率和數(shù)據(jù)信號通過隔離柵時，會產(chǎn)生電磁干擾(EMI)。這些輻射發(fā)射(RE)會對其他電子系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)的性能產(chǎn)生負(fù)面影響。對于帶隔離的電路設(shè)計，一個重要的步驟是跨隔離柵傳輸功率，并緩解產(chǎn)生的RE。雖然傳統(tǒng)方法可能行之有效，但它們往往需要權(quán)衡取舍。其中可能包括使
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