- 軟誤差率(SER)問題是于上個世紀70年代后期作為一項存儲器數據課題而受到人們的廣泛關注的，當時DRAM開始呈現出隨機故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
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SER 存儲器數據 軟誤差
- 軟誤差是半導體器件中無法有意再生的“干擾”（即數據丟失）。它是由那些不受設計師控制的外部因素所引起的，包括alpha;粒子、宇宙射線和熱中子。許多系統能夠容忍一定程度的軟誤差。例如，如果為音頻、視
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存儲 器件 方案 軟誤差
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