- 邏輯分析儀在嵌入式開發調試中的應用,在嵌入式開發調試中,開發人員的調試手段包括斷點、觸發和跟蹤三種。隨著集成電路技術的發展,新一代的嵌入式處理器集成度和工作頻率越來越高,芯片封裝形式也越來越趨向表貼化。在線調試器(ICD)與邏輯分析儀的組合開發
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調試 應用 開發 嵌入式 分析儀 邏輯
- 隨著電子產品的功能變得日益復雜，混合信號越來越多地出現在工程師設計的產品中。雖然混合信號可以給設計帶來靈活性，但由于模擬和數字信號有著不同的頻率和幅度特性，因而工程師調試和測試產品的難度也增大了。本文
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混合信號示波器 混合信號 電路設計 調試
- 調試復雜電子系統從來就不是一項簡單的工作，但至少是可以實現的，您要找到問題的所在。采用您最相信的“示波器”，通過模擬電路到數字轉換，您可以追溯到問題的源頭。然后，編寫測試小程序，檢查驅動和
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SoC 系統設計 調試
- 1 引言隨著變頻器在工業生產中的日益普及，變頻器作為一種調速節能的產品，已日益受到工礦企業的重視，成為工業生產及生活中不可或缺的工具。在石油、化工、建材、電力、礦山、塑料、冶金、水利等關系國計民生的各行
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分析 調試 安裝 變頻器 中低
- 本次測試結果顯示在射頻信號中存在干擾。圖2顯示了FPGA驅動的射頻信號的的波形，圖3顯示了使用單片機驅動的射頻信號的波形。兩者的信號強度一致但是接收距離有明顯的差異，干擾導致了噪聲容限的降低影響接收靈敏度，電源對系統的干擾確確實實的存在。
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功能 驗證 調試 模塊 RF MDO4000 進行 使用
- 1、芯片發熱這主要針對內置電源調制器的高壓驅動芯片.假如芯片消耗的電流為2mA,300V的電壓加在芯片上面,芯片的功耗為0.6W,當然會引起芯片的發熱.驅動芯片的最大電流來自于驅動功率mos管的消耗,簡單的計算公式為I=cvf
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簡介 調試 驅動 LED
- 1、芯片發熱 這主要針對內置電源調制器的高壓驅動芯片.假如芯片消耗的電流為2mA,300V的電壓加在芯片上面,芯片的功耗為0.6W,當然會引起芯片的發熱.驅動芯片的最大電流來自于驅動功率mos管的消耗,簡單的計算公式為I
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分析 調試 芯片 驅動 LED
- 今天給大家介紹一種即能像AVR Studio 一樣進行代碼級調試，又可以實時看到MCU 狀態的軟件，Proteus。 大家都知道ICC-AVR 不能進行代碼調試，很多人都選擇了AVRStudio，但是AVR Studio 不直觀，特別是在做液晶顯示代
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Proteus ICCAVR 調試 方法
- 對于proteus 6.9以后的版本,在安裝盤里或LABCENTER公司有vdmagdi插件,安裝該插件即可實現與KEIL的聯調。 首先安裝vdmagdi軟件，然后再進行以下設置： Keil設置 在Keil軟件上單擊“Project菜單/OpTIons
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Proteus KeilC 調試 方法
- ulink-Jlink下在ram和flash中調試STM32的方法,Keil MDK3.20 在ULINK下調試stm32方法1. 程序在RAM中運行要點：(1)程序的下載地址改到RAM空間中(2)程序的debug之前要設定SP，PC指針到Ram空間新建工程，選擇STM32 的具體型號，我買的萬利的開發板，選擇stm32f103Vb。
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STM32 方法 調試 flash 下在 ram ulink-Jlink
- CCD是Charged Coupled Device((電荷耦合器件)的縮寫，它是一種半導體成像器件，因而具有靈敏度高、抗強光、畸變小、體積小、壽命長、抗震動等優點。測試CCD主要測試清晰度和色彩還原性、照度、逆光補償，其次是測其
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步驟 調試 CCD 顯微鏡
- 調試過程中所看到的一些異常現象，以及后來的解決辦法。其實很多工程師認為設計電源是非常重經驗的一門技術，要見多識廣。這種經驗，不但體現在設計中，更體現在調試的過程。當你一看到波形，就能把問題定位，那就是
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現象 介紹 異常 過程 設計 調試 電源
- 基于嵌入式系統調試診斷方法,本文介紹了嵌入式系統開發過程實際上就是一個調試診斷的過程，而且調試診斷將一直伴隨著一個產品的終身，即使是最成熟的產品也偶爾會出現這樣或那樣的問題，這都需要開發人員去診斷、排查。嵌入式系統的調試包括硬件
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診斷方法 調試 系統 嵌入式 基于
- 21ic電源：1 引言隨著科技不斷進步，變頻器不斷更新、換代、升級、演變，并且其應用亦日益廣泛。尤其是變頻器的優良調速、節能、軟啟動等性能，倍受廣大用戶青睞。作為變頻器的使用者，掌握和熟悉變頻器的正確現場調
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調試 現場 變頻器 漫談
- 一、引言單片機軟件開發過程中，軟件調試遇到的各種問題常令初學者感到不知所措。實際上。各種仿真開發軟件的程序調試基本方法和技巧大同小異，掌握正確的程序調試基本技巧。對于排查這些程序錯誤問題可以起到舉一反
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