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        自動測試 文章 最新資訊

        LabVIEW、多核技術及FPGA技術如何改變儀器技術及自動測試

        •   問題:在最近這幾年里,儀器技術和自動化測試領域發生了什么樣的變化?   Starkloff回答:我們現在正將處于軟件定義的世界里。我們每天使用的設備如智能手機,機頂盒,甚至汽車,這些都是建立在嵌入式軟件系統發展的基礎之上。對于測試工程師們來說,在開發時間和預算減少的情況下對這些復雜的設備進行測試給他們帶來了挑戰?,F在,測試管理人員和工程師們利用模塊化儀器,軟件定義體系來應對這些挑戰和趨勢。   用戶定義儀器或測試系統的概念已經不新了。實際上,用戶定義儀器已經以虛擬儀器的形式存在了20多年的時間。推
        • 關鍵字: 測試  測量  LabVIEW  FPGA  自動測試  

        天線方向圖自動測試系統的設計

        •   引 言   天線是雷達的重要組成部分,天線方向圖的測試在雷達性能測試中占有極其重要的位置。早期人們采用手動法進行方向圖測量,數據的錄取、方向圖的繪制以及參數的計算都是手工方式,操作復雜,工作量大,耗時長,精度低。隨著微電子技術和計算機技術的飛速發展,天線方向圖自動測試逐漸取代了手動測量,實現了信號錄取、數據處理以及方向圖繪制的自動化,大大提高了測量速度和精度。本文介紹了一種雷達天線方向圖的自動化測量系統,分析了軟硬件結構及原理。   1 方向圖自動測試原理及實驗配置   根據天線的互易性原理,將
        • 關鍵字: 通訊  無線  網絡  天線  自動測試  測試  測量  無線網絡  

        基于DSP的小型直流風扇自動化測試系統

        • 摘 要: 針對目前我國小型直流風扇產品出廠檢測設備落后的現狀,采用現代微處理器檢測與控制技術開發了基于DSP控制器TMS320F2812A的新型直流風扇自動化測試系統。該系統實現了直流風扇的一站式測試,大大提高了測試效率。給出了該系統的設計和實現方法,介紹了其主要硬件電路結構和軟件流程。實際應用表明,該系統在性價比、測試速度和可維護性等方面均有明顯的優勢。 關鍵詞:直流風扇 自動測試 DSP 隨著IT產業的迅速發展,用在電子產品上的帶PWM控制的小型直流散熱風扇(以下簡稱風扇)的需求量越來越
        • 關鍵字: DSP  單片機  嵌入式系統  直流風扇  自動測試  

        電子測量儀器及自動測試系統的新概念和新趨勢

        • 前 言 進入21 世紀以來,科學技術的發展已難以用日新月異來描述。新工藝、新材料、新的制造技術催生了新的一代電子元器件,同時也促使電子測量技術和電子測量儀器產生了新概念和新發展趨勢。本文擬從現代電子測量儀器發展的三個明顯特點入手,進而介紹下一代自動測試系統的概念和基本技術,引入合成儀器的概念,以供讀者參考。 現代電子測量儀器的發展趨勢 儀器性能更加優異 儀器的性能更加優異,測量功能更加強大,儀器的測量精度,測試靈敏度,測量的動態范圍等都達到了前所未有的高度。例如,Agilent 公司的PSA 頻
        • 關鍵字: 測量  測試  新概念  新趨勢  自動測試  

        基站射頻自動測試系統解決方案

        •      本文介紹了一種基站射頻自動測試系統的解決方案,并對其組成、工作原理以及該方案的優點進行了詳細闡述。    該基站射頻自動測試系統由頻譜分析儀、網絡分析儀、信號源、功率計、裝有自動測試軟件的服務器、射頻開關、不同規格的濾波器和衰減器組成。能夠根據我國目前基站/直放站射頻行業檢測標準、國際標準和國家無線電委員會的相關規定完成CDMA2000基站、CDMA基站、MA直放站、CDMA基站、基站、SM直放站和PHS基站共七種常見類型基站和直放站的
        • 關鍵字: RF專題  基站射頻  通訊  網絡  無線  自動測試  

        基于DDS的MPT變壓器動態參數測試系統

        • 摘    要:本文介紹了一種利用DDS(直接數字頻率合成技術)完成掃頻測量的MPT變壓器動態參數自動測試系統,給出了該系統的實現思路和軟硬件結構。關鍵詞:DDS;AD9850;掃頻;自動測試引言為了提高液晶顯示器的顯示亮度,液晶顯示器都配有一個背光板。MPT變壓器是一種新型的用于背光板產生負高壓的陶瓷變壓器,其原理是利用陶瓷的固有頻率諧振后產生高壓信號。為了保證MPT變壓器的質量,需要對其動態參數(所有參數均指諧振時的參數),包括諧振頻率、輸入電壓、輸入電流、輸入功率、輸出電
        • 關鍵字: AD9850  DDS  掃頻  自動測試  
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        自動測試介紹

          目錄   1 正文   正文   現代自動測試起源于軍事上的需要,于50年代中期開展了大規模的研制,到60年代中后期已應用于工業中并得到進一步發展。第一代自動測試系統幾乎都是為某些測試目的而專門設計制造的。為了適應武器系統和工業裝備的迅速更新換代,人們試圖制成“萬能”的自動測試系統,以至設備日益龐大復雜。自動測試的目的除加快測試速度之外,更重要的是節省高級熟練技術人員的復雜勞動,使之從事 [ 查看詳細 ]

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