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        背照技術 文章 最新資訊

        X-FAB引入圖像傳感器背照技術增強CMOS傳感器性能

        • 全球公認的卓越的模擬/混合信號晶圓代工廠X-FAB Silicon Foundries(“X-FAB”)近日宣布,其光學傳感器產品平臺再添新成員——為滿足新一代圖像傳感器性能的要求,X-FAB現已在其備受歡迎的CMOS傳感器工藝平臺XS018(180納米)上開放了背照(BSI)功能。BSI工藝截面示意圖通過BSI工藝,成像感光像素性能將得到大幅增強。這一技術使得每個像素點接收到的入射光不會再被后端工藝的金屬層所遮擋,從而大幅提升傳感器的填充比,最高可達100%。由于其能夠獲得更高的像素感光靈敏度,因而在暗
        • 關鍵字: X-FAB  圖像傳感器  背照技術  CMOS傳感器  
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        背照技術介紹

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