- _____隨著技術的不斷進步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）因其優異的性能被廣泛應用于各種電子設備中。然而，這些器件在長期連續使用后會出現老化現象，導致性能退化。如何在短時間內準確評估這些器件的老化特性，成為行業關注的焦點。目前，針對功率器件的老化測試主要包括多種不同的測試方式。其中，JEDEC制定的老化測試標準（如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環測試）主要針對傳統的硅基功率器件。對于新型的SiC等功率器件，AQG-324標準進一步要求增加動態老化測試，如動態柵偏和動態反偏測試。
- 關鍵字：
功率器件 老化特性 HTOL 高溫工況 老化測試
老化特性介紹
您好，目前還沒有人創建詞條老化特性!
歡迎您創建該詞條，闡述對老化特性的理解，并與今后在此搜索老化特性的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
