- 解決問題：脈沖I-V測試 ——納米測試小技巧
在對納米器件進行電流-電壓(I-V)脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應。這里，低電平測量技術不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電導率材料的電阻測量都非常重要。利于研究人員和電子行業測試工程師而言，這一功耗限制對當前的器件與材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑戰。
與微米級元件與材料的I-V曲線生成不同的是，對納米材料與器件的測量需要特殊的
- 關鍵字：
吉時利 納米測試 脈沖I-V測試
- 在對納米器件進行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電...
- 關鍵字：
納米測試 脈沖特征
納米測試介紹
您好，目前還沒有人創建詞條納米測試!
歡迎您創建該詞條，闡述對納米測試的理解，并與今后在此搜索納米測試的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
