EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
確定性測(cè)試
確定性測(cè)試 文章 進(jìn)入確定性測(cè)試技術(shù)社區(qū)
西門(mén)子推出Tessent In-System Test，在硅片全生命周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的確定性測(cè)試
- 西門(mén)子數(shù)字化工業(yè)軟件日前推出?Tessent??In-System Test?軟件，作為一款突破性的可測(cè)試性設(shè)計(jì)?(DFT)?解決方案，旨在增強(qiáng)下一代集成電路?(IC)?的系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試能力。Tessent In-System Test?專(zhuān)為解決老化和環(huán)境因素等導(dǎo)致的靜默數(shù)據(jù)損壞或錯(cuò)誤?(SDC/SDE)?挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)，是可與?Tessent??Streaming Scan Network&n
- 關(guān)鍵字： 西門(mén)子 Tessent In-System Test 確定性測(cè)試
| 共1條 1/1 1 |
確定性測(cè)試介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條確定性測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)確定性測(cè)試的理解，并與今后在此搜索確定性測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)確定性測(cè)試的理解，并與今后在此搜索確定性測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473