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ARM硬件電路設(shè)計
- 關(guān)鍵字： ARM 硬件電路 系統(tǒng)復(fù)位
基于FPGA的PCB測試機硬件電路設(shè)計
- 引言 PCB 光板測試機基本的測試原理是歐姆定律，其測試方法是將待測試點間加一定的測試電壓，用譯碼電路選中PCB 板上待測試的兩點，獲得兩點間電阻值對應(yīng)的電壓信號，通過電壓比較電路，測試出兩點間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次，即可實現(xiàn)對整個電路板的測試。 由于被測試的點數(shù)比較多， 一般測試機都在2048點以上，測試控制電路比較復(fù)雜，測試點的查找方法以及切換方法直接影響測試機的測試速度，本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計。 硬件控制系統(tǒng) 測試過程是在上位計算機的控制下，控
- 關(guān)鍵字： FPGA PCB 測試機 硬件電路
基于FPGA的PCB測試機硬件電路設(shè)計
- 引言 PCB 光板測試機基本的測試原理是歐姆定律，其測試方法是將待測試點間加一定的測試電壓，用譯碼電路選中PCB 板上待測試的兩點，獲得兩點間電阻值對應(yīng)的電壓信號，通過電壓比較電路，測試出兩點間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次，即可實現(xiàn)對整個電路板的測試。 由于被測試的點數(shù)比較多， 一般測試機都在2048點以上，測試控制電路比較復(fù)雜，測試點的查找方法以及切換方法直接影響測試機的測試速度，本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計。 硬件控制系統(tǒng) 測試過程是在上位計算機的控制下
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千兆高速采集系統(tǒng)的硬件電路設(shè)計
- 1 ADC08D1000的結(jié)構(gòu) ADC08D1000是NS(National Semiconductor，國家半導(dǎo)體)公司于2005年推出的雙通道低功耗的高速8位A／D轉(zhuǎn)換器，其最高單通道采樣頻率達l.3 GHz，全功率帶寬(FPBW)為1．7 GHz，在500 MHz標(biāo)準(zhǔn)信號輸入的情況下可以獲得7．4位的有效采樣位數(shù)。整個A／D轉(zhuǎn)換器用單電源1．9V供電，內(nèi)帶高質(zhì)量參考源和高性能采樣保持電路，每個通道均為差分輸入，采樣范圍可選為650 mV或870 mV(峰一峰值)。在高速數(shù)／模轉(zhuǎn)換系統(tǒng)中，有
- 關(guān)鍵字： 硬件電路 NS A／D轉(zhuǎn)換器 FPGA LVDS
硬件電路介紹
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