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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 矽穿孔

        矽穿孔 文章 進入矽穿孔技術社區

        矽穿孔技術襄助 3D IC提高成本效益

        •   應用直通矽晶穿孔(TSV)技術的三維積體電路(3DIC)為半導體業界提供全新境界的效率、功耗、效能及體積優勢。然而,若要讓3DIC成為主流,還必須執行許多基礎的工作。電子設計自動化(EDA)業者提供周延的解決方案支援3DIC革命,包括類比與數位設計實現、封裝與印刷電路板(PCB)設計工具。半導體廠可以運用這個解決方案,滿足高效率設計應用TSV技術的3DIC的所有需求。   隨著更高密度、更大頻寬與更低功耗的需求日益增加,許多IC團隊都在期待應用TSV技術的3DIC。3DIC以更小的體積容納豐富的
        • 關鍵字: 矽穿孔  3D   

        國研院開發新芯片 大幅提升訊號傳輸速度

        •   國研院今發表「積層型3D-IC」技術,可將訊號傳輸速度提升數百倍、耗能降低至少一半。預計今年便可運用在顯示器上,未來將陸續與國內記憶體、面板及晶圓代工產業合作,估計技轉金約需上億元,是國研院截至目前為止的最高技轉金額。   新世代要求多功能、可攜式智慧行動裝置,需要傳輸速度更快、更低耗能的晶片來處理,因此近年來積體電路(IC)制作漸由平面2DIC衍伸出立體結構的3DIC,藉由IC堆疊來縮短訊號傳輸距離。目前半導體廠制作3DIC主要是以「矽穿孔3D-IC技術」,將兩塊分別制作完成的IC晶片以垂直導線連
        • 關鍵字: 矽穿孔  芯片  

        c制程漸成熟 有助3C產品微縮設計

        •   行動運算產品市場持續朝產品薄化方向設計,目前相關設計多使用整合晶片減少元件用量,對于異質核心的封裝整合,若仍使用舊有的封裝技術將會造成成品元件仍具一定程度占位面積,必須利用堆疊與更復雜的3DIC技術進行元件整合的積極微縮設計…   矽晶片的制程技術,一直是推進行動終端產品躍進式升級、改善的關鍵驅動力,以往透過SoC(systemonachip)將不同用途的異質核心進行整合,目前已經產生簡化料件、縮減關鍵元件占位面積的目的,但隨著使用者對于行動裝置或可攜式裝置的薄化、小型化要求越來越高,
        • 關鍵字: 3D  制程  矽穿孔  
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        矽穿孔介紹

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