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        矢量發生 文章 進入矢量發生技術社區

        芯片設計中的可測試設計技術

        • 在測試中,目的是要盡快確定芯片是否以較高的穩定性正常工作,而不是絕對的穩定性。現在芯片設計團隊普遍認識到,這需要在芯片上添加DFT(可測試設計)電路。第三方工具和IP (知識產權)企業可幫助實現此目標。
        • 關鍵字: 矢量發生  芯片設計  功能模塊  
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        矢量發生介紹

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