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高壓擺率負載瞬態測試

• 微處理器和應用特定集成電路 (ASIC) 需要低電壓、高電流電源。此類電源通常對輸出電壓偏差有非常嚴格的要求，對于負載瞬態事件尤其如此。測試此類電源會給設計人員帶來一定的挑戰，并且可能難以確認是否符合規范。本文將介紹更多負載瞬態測試的詳細信息以及可用于簡化這些復雜測試的方法。首先，需要了解所有瞬態規格，以便合理設計電源，同時還需要了解它們如何應用于測試。典型的瞬態規格包括：● 負載階躍大小，以安培為單位或以占滿負載的百分比表示。● 瞬態事件（有時為零）期間的最小負載。● 負載階躍的壓擺率，通常以
• 關鍵字： 電壓偏差  電源設計