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        特性測試儀 文章 最新資訊

        數字控制幅頻特性測試儀的技術研究

        • 文章以ARM微處理器為核心,采用直接頻率合成技術,設計了一種低頻高精度的幅頻特性測試儀。系統以直接數字頻率合成器AD9851作為掃頻信號源,用真有效值轉換芯片AD637實現對被測網絡的幅頻特性的測量,經ARM采樣與處理,最后得到被測網絡的幅頻特性曲線。實驗結果表明,本系統不僅能實現各種測試功能,而且測試頻率能提高到8MHz。因此本系統為現代電子科研實驗室提供了一種高精度和有較高實用價值的低頻幅頻特性測試儀。
        • 關鍵字: 數字控制  技術研究  特性測試儀    
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        特性測試儀介紹

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