片上測(cè)試 文章 最新資訊

一種用于高精度ADC片上測(cè)試的信號(hào)發(fā)生器

• 隨著模／數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)性能的提高，如何用最有效的方法對(duì)ADC進(jìn)行準(zhǔn)確而快捷的測(cè)試，成為當(dāng)今研究的熱點(diǎn)問(wèn)題。提出了一種應(yīng)用于高精度ADC片上測(cè)試的高精度高線性度模擬三角波信號(hào)發(fā)生器。該信號(hào)發(fā)生囂由方波積分器和遲滯比較器反饋控制電路組成，可為精度高達(dá)14 b的模／數(shù)轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)特性測(cè)試提供足夠精度的片上測(cè)試激勵(lì)。仿真結(jié)果表明，該信號(hào)發(fā)生器所生成的三角波電壓范圍為82 mV～1．719 V，周期為366μs，INL小于24μV，等效精度達(dá)到16 b以上，具有非常高的線性度，并且可根據(jù)所需要的周期和幅度進(jìn)行方
• 關(guān)鍵字： ADC  高精度  片上測(cè)試  信號(hào)發(fā)生器